平面度怎么测量（平面度的测量方法及检测工具）

大家好，关于平面度怎么测量很多朋友都还不太明白，不知道是什么意思，那么今天我就来为大家分享一下关于平面度的测量方法及检测工具的相关知识，文章篇幅可能较长，还望大家耐心阅读，希望本篇文章对各位有所帮助！

1平面度怎么检测?

1、平面度测量的常用方法有如下几种：平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。

2、平面度测量方法有：塞尺测量、影像测量仪测量、接触式探针测量、激光测量仪测量、液平面法、打表测量法。

3、塞尺测量法。塞尺主要用于间隙间距的测量，对平面度的测量只能进行粗测。塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的污垢与灰尘。使用时可用一片或数片重叠插入间隙，以稍感拖滞为宜。测量时动作要轻，不允许硬插。

2平面度测量方法

平面度测量的常用方法有如下几种：平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。

平面度测量方法如下：大部分都是用塞尺测量。塞尺用于填充整个工件边缘，以获得测量数据。这种方法弊端很大，因为塞尺塞不进工件中间，导致中间部分的数据测不出来。而且塞尺容易刮伤工件，尤其是玻璃工件，更容易刮伤。

探针式方法是利用三坐标测量机等设备，对表面上的若干点进行接触测量，然后用最小二乘法或最小区域法拟合一个理想平面，再计算各测量点到理想平面的距离，取最大值作为平面度的公差值。

3平面度怎样测量?

1、平面度测量的常用方法有如下几种：平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。

2、塞尺测量法。塞尺主要用于间隙间距的测量，对平面度的测量只能进行粗测。塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的污垢与灰尘。使用时可用一片或数片重叠插入间隙，以稍感拖滞为宜。测量时动作要轻，不允许硬插。

3、平面度误差测量的常用方法有如下几种：平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。

4、平面度测量方法如下：大部分都是用塞尺测量。塞尺用于填充整个工件边缘，以获得测量数据。这种方法弊端很大，因为塞尺塞不进工件中间，导致中间部分的数据测不出来。而且塞尺容易刮伤工件，尤其是玻璃工件，更容易刮伤。

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